- Ермолаев В.Л. Квантовые выходы фосфоресценции и флуоресценции некоторых 1-производных нафталина в растворах при -196 °C / Ермолаев В.Л., Свиташев К.К. // Оптика и спектроскопия. - 1959. - Т.7, N 5. - С.664-667. - Библиогр.: 10 назв.
- Ермолаев В.Л. Внутренняя конверсия с флуоресцентного на фосфоресцентный уровень в производных нафталина / Ермолаев В.Л., Котляр И.П., Свиташев К.К. // Известия Академии наук СССР. Сер. физ. - 1960. - Т.24, N 5. - С.492-495. - Библиогр.: 8 назв.
- Иccледование поверхностной фотопроводимости германия / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Филатова Е.С., Шепель В.М. // Физика твердого тела. - 1966. - Т.8, N 3. - С.758-766. - Библиогр.: 8 назв.
- Ржанов А.В. О влиянии захвата неравновесных носителей заряда поверхностными дефектами на спектр собственной фотопроводимости тонкого образца германия / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Шепель В.М. // Физика твердого тела. - 1966. - Т.8, N 6. - С.1955-1957. - Библиогр.: 3 назв.
- Ржанов А.В. Спектры гашения фотопроводимости тонкого образца германия при 77 °К / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Шепель В.М. // Физика твердого тела. - 1966. - Т.8, N 9. - С.2777-2779. - Библиогр.: 5 назв.
- Investigation of the surface photoconductivity of germanium / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Filatova E.S., Shepel V.M. // Soviet Physics - Solid State. - 1966. - V.8, N 3. - P.607-613. - Bibliogr.: 8 ref.
- Ржанов А.В. Измерение фото-ЭДС Холла на тонких образцах германия / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Панькин В.Г. // Физика и техника полупроводников. - 1967. - Т.1, N 4. - С.526-534. - Библиогр.: 17 назв.
- Rzhanov A.V. Measurements of the Hall photo-EMF in thin samples of germanium / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Pankin V.G. // Soviet Physics - Semiconductors. - 1967. - V.1, N 4. - P.437-443. - Bibliogr.: 17 ref.
- Rzhanov A.V. Photoconductivity quenching spectra of a thin sample of germanium at 77 °K / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Shepel V.M. // Soviet Physics - Solid State. - 1967. - N 3. - P.2216-2218. - Bibliogr.: 5 ref.
- Ржанов А.В. Спектр примесей поверхностной фотопроводимости тонкого образца германия n-типа / Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Физика и техника полупроводников. - 1968. - Т.2, N 5. - С.739-741. - Библиогр.: 7 назв.
- Rzhanov A.V. Extrinsic surface photoconductivity spectrum of a thin n-type germanium sample / Rzhanov A.V., Svitashev K.K. // Soviet Physics - Semiconductors. - 1968. - V.2, N 5. - P.613-614. - Bibliogr.: 7 ref.
- * Балабанов С. Фотоволтаичен ефект с променлив знак на контакте между монокристален германий и златен электрод / Балабанов С., Свиташев К. // Известия на Физическия Институт с АНЕБ. - 1969. - N 19. - С.5-18.
- Ковалевская Т.И. Спектроскопическое исследование структуры реальной поверхности германия / Ковалевская Т.И., Свиташев К.К. // Физика и техника полупроводников. - 1969. - Т.3, N 6. - С.799-802. - Библиогр.: 12 назв.
- Панькин В.Г. Фотоэлектрические явления на границе между монокристаллическими блоками германия / Панькин В.Г., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // III всесоюзный симпозиум по электронным процессам на поверхности и в тонких монокристаллических слоях полупроводников (23-27 июня 1969 г.): тез. докл. - Новосибирск, 1969. - С.39.
- Панькин В.Г. О некоторых особенностях спектрального распределения фотопроводимости германия в области собственного поглощения / Панькин В.Г., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Физика и техника полупроводников. - 1970. - Т.4, N 4. - С.679-684. - Библиогр.: 14 назв.
- Исследование границы раздела германий - пленка термической двуокиси германия / Дроздов В.Н., Ковалевская Т.И., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // IV всесоюзное совещание по электронным явлениям на поверхности полупроводников (Киев, 26-28 окт. 1971 г.): тез. докл. - Киев, 1971. - С.44.
- Исследование структуры переходного слоя в системе германий - пленка двуокиси кремния методом ИК спектроскопии МНПВО / Ковалевская Т.И., Нестерова С.Н., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Физика и техника полупроводников. - 1971. - Т.5, N 9. - С.1720-1724. - Библиогр.: 12 назв.
- Об использовании сходящегося пучка света при эллипсометрических измерениях / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1971. - Т.30, N 3. - С.532-538. - Библиогр.: 7 назв.
- Измерение толщины эпитаксиальных слоев кремния методом эллипсометрии в далекой инфракрасной области спектра / Мишнев В.И., Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К., Сухоруков О.Г. // Микроэлектроника. - 1972. - Т.1, N 2. - С.152-155.
- О точности и чувствительности метода эллипсометрии. I. Точность метода / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1972. - Т.33, N 4. - С.742-747. - Библиогр.: 6 назв.
- Об измерении параметров тонких двухслойных диэлектрических пленок на полупроводниковых подложках эллипсометрическим методом / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1972. - Т.32, N 5. - С.1020-1026. - Библиогр.: 13 назв.
- Семененко Л.В. Оптический поляризационный метод исследования поверхности полупроводников / Семененко Л.В., Свиташев К.К., Семененко А.И. // Некоторые проблемы физики и химии поверхности полупроводников. - Новосибирск: Наука, 1972. - С.114-180. - Библиогр.: 66 назв.
- Эллипсометрия поглощающих пленок / Семененко Л.В., Свиташев К.К., Семененко А.И., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1972. - Т.32, N 6. - С.1204-1210. - Библиогр.: 11 назв.
- К вопросу об измерении толщины эпитаксиальных полупроводниковых пленок на полупроводниковых подложках методом эллипсометрии в далекой инфракрасной области спектра / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К., Сухоруков О.Г. // Микроэлектроника. - 1973. - Т.2, N 5. - С.454-460. - Библиогр.: 15 назв.
- Курындина Н.К. Конденсаторная фотоэдс в системе Si-SiO2 / Курындина Н.К., Свиташев К.К. // Физика и техника полупроводников. - 1973. - Т.7, N 7. - С.1452.
- Свиташев К. Луч света исследует поверхность материала / Свиташев К. // За науку в Сибири. - 1973. - 16 мая. - C.4-5.
- Физико-химические и электрофизические свойства системы германий - термическая двуокись германия. I. Кинетика роста и структура пленок термической двуокиси германия / Дроздов В.Н., Ковалевская Т.И., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Микроэлектроника. - 1973. - Т.2, N 1. - С.46-52. - Библиогр.: 20 назв.
- Физико-химические и электрофизические свойства системы германий - термическая двуокись германия. II. Электрофизические параметры системы Ge-GeO2 / Дроздов В.Н., Ковалевская Т.И., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Микроэлектроника. - 1973. - Т.2, N 2. - С.154-158. - Библиогр.: 17 назв.
- Эллипсометрия на основе сходящегося пучка света / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1973. - Т.34, N 5. - С.941-946. - Библиогр.: 2 назв.
- * On the problem of measurement of thickness of epitaxial semiconductor films on semiconductor substrates by the ellipsometric method in the far infrared region / Svitashev K.K., Semenenko A.I., Semenenko L.V., Sokolov V.K., Sukhorukov O.G. // Vacuum. - 1975. - V.25, N 1. - P.40-46. - Bibliogr.: 15 ref.
- Физико-химические и электрофизические свойства системы германий - пиролитическая двуокись кремния / Ковалевская Т.И., Дроздов В.Н., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Микроэлектроника. - 1974. - Т.3, N 5. - С.404-412. - Библиогр.: 17 назв.
- Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленок / Васильева Л.Л., Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1974. - Т.37, N 3. - С.574-581. - Библиогр.: 7 назв.
- Применение эллипсометрии для измерения толщин диэлектрических пленок на отдельных элементах интегральных микросхем / Анциферов А.П., Панькин В.Г., Свиташев К.К., Шашкин В.В., Шварц В.Л. // Микроэлектроника. - 1975. - Т.4, N 3. - С.273-275. - Библиогр.: 3 назв.
- Температурная зависимость оптических характеристик германия для λ=6328 Å / Бакланов М.Р., Свиташев К.К., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Оптика и спектроскопия. - 1975. - Т.39, N 2. - С.362-366. - Библиогр.: 10 назв.
- Эллипсометрические методы контроля в микроэлектронике / Ржанов А.В., Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Микроэлектроника. - 1975. - Т.4, N 1. - С.3-23. - Библиогр.: 69 назв.
- Temperature dependence of the optical characteristics of germanium at 6328 Å / Baklanov M.R., Svitashev K.K., Semenenko L.V., Sokolov V.K. // Optics and Spectroscopy. - 1975. - V.39, N 2. - P.205-207. - Bibliogr.: 10 ref.
- Кинетика образования слоев SiO2 при окислении силана кислородом / Васильева Л.Л., Дроздов В.Н., Репинский С.М., Свиташев К.К. // Микроэлектроника. - 1976. - Т.5, N 5. - С.448-453. - Библиогр.: 9 назв.
- Свиташев К.К. Общее выражение для интенсивности рабочего светового пучка на выходе идеального эллипсометра / Свиташев К.К., Филатова Е.С. // Оптика и спектроскопия. - 1976. - Т.40, N 6. - С.1064-1068. - Библиогр.: 6 назв.
- Система автоматизации эллипсометрических измерений / Блюмкина Ю.А., Алгазин Ю.Б., Архипенко А.В., Свиташев К.К., Степанов С.А. // Оптика и спектроскопия. - 1976. - Т.40, N 3. - С.596-599. - Библиогр.: 13 назв.
- Ellipsometric study of the interaction of a germanium monocrystal with bromine [pdf 203,2 Kb] / Baklanov M.R., Algazin Y.B., Grebnev N.I., Repinskii S.M., Svitashev K.K. // Reaction Kinetics and Catalysis Letters. - 1976. - V.4, N 3. - P.413-418. - Bibliogr.: 10 ref.
- Svitashev K.K. General expression for the intensity of the working light beam at the exit of an ideal ellipsometer / Svitashev K.K., Filatova E.S. // Optics and Spectroscopy. - 1976. - V.40, N 6. - P.612-614. - Bibliogr.: 6 ref.
- System for automating ellipsometric measurements / Blyumkina Yu.A., Algazin Yu.B., Arkhipenko A.V., Svitashev K.K., Stepanov S.A. // Optics and Spectroscopy. - 1976. - V.40, N 3. - P.339-340. - Bibliogr.: 13 ref.
- Изменение оптических свойств пленок нитрида, оксинитрида и окисла кремния при облучении ионами / Герасименко Н.Н., Ковалевская Т.И., Панькин В.Г., Свиташев К.К., Цейтлин Г.М. // Журнал прикладной спектроскопии. - 1977. - Т.26, N 1. - С.164-166. - - Библиогр.: 7 назв.
- Исследование и анализ рабочих характеристик автоматизированной эллипсометрической установки / Алгазин Ю.Б., Архипенко А.В., Бакланов М.Р., Блюмкина Ю.А., Свиташев К.К., Семененко Л.В., Степанов С.А. // Оптика и спектроскопия. - 1977. - Т.43, N 1. - С.168-175. - Библиогр.: 20 назв.
- Исследование волноводных структур, полученных облучением плавленого кварца ионами водорода / Герасименко Н.Н., Панькин В.Г., Свиташев К.К., Соколов С.А., Цейтлин Г.М. // Квантовая электроника. - 1977. - Т.4, N 6. - С.1372-1375. - - Библиогр.: 11 назв.
- Исследование эпитаксиальных слоев кремния на лазерном ИК-эллипсометре / Свиташев К.К., Семененко Л.В., Шаршунов А.Г., Феоктистов А.И. // Микроэлектроника. - 1977. - Т.6, N 3 - С.258-262. - Библиогр.: 10 назв.
- К вопросу определения оптических постоянных материалов методом эллипсометрии в далекой ИК-области спектра / Мардежов А.С., Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. // Микроэлектроника. - 1977. - Т.6, N 5. - С.427-436. - Библиогр.: 16 назв.
- К теории модуляционной эллипсометрии / Архипенко А.В., Блюмкина Ю.А., Ржанов А.В., Свиташев К.К. // Доклады Академии наук СССР. - 1977. - Т.235, вып.2. - C.323-326.
- О точности и чувствительности метода эллипсометрии. II. Чувствительность метода / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К., Филатова Е.С. // Оптика и спектроскопия. - 1977. - Т.42, N 6. - С.1142-1147. - Библиогр.: 11 назв.
- Поведение оптических постоянных и электрические свойства тонких пленок VaO2 вблизи фазового перехода / Береснева Л.А., Васильева Л.Л., Девятова С.Ф., Панькин В.Г., Свиташев К.К., Шварц Н.Л. // Журнал технической физики. Письма в редакцию. - 1977. - Т.3, N 9. - С.420-424. - Библиогр.: 10 назв.
- Электронные процессы на границе раздела полупроводник - диэлектрик и в структурах металл - диэлектрик - полупроводник / Ржанов А.В., Нахмансон Р.С., Неизвестный И.Г., Овсюк В.Н., Покровская С.В., Репинский С.М., Свиташев К.К., Синица С.П., Синюков М.П., Французов А.А., Чаплик А. / Фундаментальные исследования. Физико-математические и технические науки. - Новосибирск: Наука, 1977. - С.144-152. - Библиогр.: 15 назв.
- Эллипсометрические измерения на шероховатых поверхностях германия и кремния / Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Шварц Н.Л. // Оптика и спектроскопия. - 1977. - Т.43, N 1. - С.161-167. - Библиогр.: 9 назв.
- Accuracy and sensitivity of the ellipsometry method. 2: Sensitivity of the method / Svitashev K.K., Semenenko A.I., Semenenko L.V., Sokolov V.K., Filatova E.S. // Optics and Spectroscopy. - 1977. - V.42, N 6. - P.657-660. - Bibliogr.: 11 ref.
- Changes in the optical properties of films of silicon nitride, silicon oxinitride, and silicon oxide upon ion irradiation [pdf 201,7 Kb] / Gerasimenko N.N., Kovalevskaya T.I., Pan'kin V.G., Svitashev K.K., Tseitlin G.M. // Journal of Applied Spectroscopy. - 1977. - V.26, N 1. - P.129-131. - Bibliogr.: 7 ref.
- Ellipsometric measurements on rough germanium and silicon surfaces / Svitashev K.K., Semenenko A.I., Semenenko L.V., Shvarts N.L. // Optics and Spectroscopy. - 1977. - V.43, N 1. - P.88-91. - Bibliogr.: 9 ref.
- Investigation of waveguide structures formed by irradiation of fused quartz with hydrogen ions / Gerasimenko N.N., Pan'kin V.G., Svitashev K.K., Sokolov S.A., Tseitlin G.M. // Quantum Electronics. - 1977. - V.7, N 6. - P.778-780.
- Performance characteristics of an automated ellipsometric device: study and analysis / Algazin Yu.B., Arkhipenko A.V., Baklanov M.R., Blyumkina Yu.A., Svitashev K.K., Semenenko L.V., Stepanov S.A. // Optics and Spectroscopy. - 1977. - V.43, N 1. - P.92-96. - Bibliogr.: 20 ref.
- Theory of modulation ellipsometry / Arkhipenko A.V., Blyumkina Yu.A., Rzhanov A.V., Svitashev K.K. // Soviet Physics Doklady. - 1977. - V.22. - P.402.
- Ред.: Эллипсометрия: библиографический указатель отечественной и иностранной литературы за 1950-1976 гг. / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; сост. Волошкевич Е.Д., Лебедева О.Ф.; научн. ред. Свиташев К.К. - Новосибирск: Наука, 1977. - 132 с.
|
