- YErmolayev V.L. Kvantovyye vykhody fosforyestsyentsii i fluoryestsyentsii nyekotorykh 1-proizvodnykh naftalina v rastvorakh pri -196 °C / YErmolayev V.L., Svitashyev K.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1959. - T.7, N 5. - S.664-667. - Bibliogr.: 10 nazv.
- YErmolayev V.L. Vnutryennyaya konvyersiya s fluoryestsyentnogo na fosforyestsyentnyi urovyen' v proizvodnykh naftalina / YErmolayev V.L., Kotlyar I.P., Svitashyev K.K. // Izvyestiya Akadyemii nauk SSSR. Syer. fiz. - 1960. - T.24, N 5. - S.492-495. - Bibliogr.: 8 nazv.
- Icclyedovaniye povyerkhnostnoi fotoprovodimosti gyermaniya / Rzhanov A.V., Svitashyev K.K., Filatova YE.S., SHyepyel' V.M. // Fizika tvyerdogo tyela. - 1966. - T.8, N 3. - S.758-766. - Bibliogr.: 8 nazv.
- Rzhanov A.V. O vliyanii zakhvata nyeravnovyesnykh nosityelyei zaryada povyerkhnostnymi dyefyektami na spyektr sobstvyennoi fotoprovodimosti tonkogo obraztsa gyermaniya / Rzhanov A.V., Svitashyev K.K., SHyepyel' V.M. // Fizika tvyerdogo tyela. - 1966. - T.8, N 6. - S.1955-1957. - Bibliogr.: 3 nazv.
- Rzhanov A.V. Spyektry gashyeniya fotoprovodimosti tonkogo obraztsa gyermaniya pri 77 °K / Rzhanov A.V., Svitashyev K.K., SHyepyel' V.M. // Fizika tvyerdogo tyela. - 1966. - T.8, N 9. - S.2777-2779. - Bibliogr.: 5 nazv.
- Investigation of the surface photoconductivity of germanium / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Filatova E.S., Shepel V.M. // Soviet Physics - Solid State. - 1966. - V.8, N 3. - P.607-613. - Bibliogr.: 8 ref.
- Rzhanov A.V. Izmyeryeniye foto-EHDS KHolla na tonkikh obraztsakh gyermaniya / Rzhanov A.V., Svitashyev K.K., Pan'kin V.G. // Fizika i tyekhnika poluprovodnikov. - 1967. - T.1, N 4. - S.526-534. - Bibliogr.: 17 nazv.
- Rzhanov A.V. Measurements of the Hall photo-EMF in thin samples of germanium / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Pankin V.G. // Soviet Physics - Semiconductors. - 1967. - V.1, N 4. - P.437-443. - Bibliogr.: 17 ref.
- Rzhanov A.V. Photoconductivity quenching spectra of a thin sample of germanium at 77 °K / Rzhanov A.V., Svitashev K.K., Shepel V.M. // Soviet Physics - Solid State. - 1967. - N 3. - P.2216-2218. - Bibliogr.: 5 ref.
- Rzhanov A.V. Spyektr primyesyei povyerkhnostnoi fotoprovodimosti tonkogo obraztsa gyermaniya n-tipa / Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Fizika i tyekhnika poluprovodnikov. - 1968. - T.2, N 5. - S.739-741. - Bibliogr.: 7 nazv.
- Rzhanov A.V. Extrinsic surface photoconductivity spectrum of a thin n-type germanium sample / Rzhanov A.V., Svitashev K.K. // Soviet Physics - Semiconductors. - 1968. - V.2, N 5. - P.613-614. - Bibliogr.: 7 ref.
- * Balabanov S. Fotovoltaichyen yefyekt s promyenliv znak na kontaktye myezhdu monokristalyen gyermanii i zlatyen ehlyektrod / Balabanov S., Svitashyev K. // Izvyestiya na Fizichyeskiya Institut s ANYEB. - 1969. - N 19. - S.5-18.
- Kovalyevskaya T.I. Spyektroskopichyeskoye isslyedovaniye struktury ryeal'noi povyerkhnosti gyermaniya / Kovalyevskaya T.I., Svitashyev K.K. // Fizika i tyekhnika poluprovodnikov. - 1969. - T.3, N 6. - S.799-802. - Bibliogr.: 12 nazv.
- Pan'kin V.G. Fotoehlyektrichyeskiye yavlyeniya na granitsye myezhdu monokristallichyeskimi blokami gyermaniya / Pan'kin V.G., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // III vsyesoyuznyi simpozium po ehlyektronnym protsyessam na povyerkhnosti i v tonkikh monokristallichyeskikh sloyakh poluprovodnikov (23-27 iyunya 1969 g.): tyez. dokl. - Novosibirsk, 1969. - S.39.
- Pan'kin V.G. O nyekotorykh osobyennostyakh spyektral'nogo raspryedyelyeniya fotoprovodimosti gyermaniya v oblasti sobstvyennogo pogloscyeniya / Pan'kin V.G., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Fizika i tyekhnika poluprovodnikov. - 1970. - T.4, N 4. - S.679-684. - Bibliogr.: 14 nazv.
- Isslyedovaniye granitsy razdyela gyermanii - plyenka tyermichyeskoi dvuokisi gyermaniya / Drozdov V.N., Kovalyevskaya T.I., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // IV vsyesoyuznoye sovyescaniye po ehlyektronnym yavlyeniyam na povyerkhnosti poluprovodnikov (Kiyev, 26-28 okt. 1971 g.): tyez. dokl. - Kiyev, 1971. - S.44.
- Isslyedovaniye struktury pyeryekhodnogo sloya v sistyemye gyermanii - plyenka dvuokisi kryemniya myetodom IK spyektroskopii MNPVO / Kovalyevskaya T.I., Nyestyerova S.N., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Fizika i tyekhnika poluprovodnikov. - 1971. - T.5, N 9. - S.1720-1724. - Bibliogr.: 12 nazv.
- Ob ispol'zovanii skhodyascyegosya puchka svyeta pri ehllipsomyetrichyeskikh izmyeryeniyakh / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1971. - T.30, N 3. - S.532-538. - Bibliogr.: 7 nazv.
- Izmyeryeniye tolsciny ehpitaksial'nykh sloyev kryemniya myetodom ehllipsomyetrii v dalyekoi infrakrasnoi oblasti spyektra / Mishnyev V.I., Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K., Sukhorukov O.G. // Mikroehlyektronika. - 1972. - T.1, N 2. - S.152-155.
- O tochnosti i chuvstvityel'nosti myetoda ehllipsomyetrii. I. Tochnost' myetoda / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1972. - T.33, N 4. - S.742-747. - Bibliogr.: 6 nazv.
- Ob izmyeryenii paramyetrov tonkikh dvukhsloinykh diehlyektrichyeskikh plyenok na poluprovodnikovykh podlozhkakh ehllipsomyetrichyeskim myetodom / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1972. - T.32, N 5. - S.1020-1026. - Bibliogr.: 13 nazv.
- Syemyenyenko L.V. Optichyeskii polyarizatsionnyi myetod isslyedovaniya povyerkhnosti poluprovodnikov / Syemyenyenko L.V., Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I. // Nyekotoryye problyemy fiziki i khimii povyerkhnosti poluprovodnikov. - Novosibirsk: Nauka, 1972. - S.114-180. - Bibliogr.: 66 nazv.
- EHllipsomyetriya pogloscayuscikh plyenok / Syemyenyenko L.V., Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1972. - T.32, N 6. - S.1204-1210. - Bibliogr.: 11 nazv.
- K voprosu ob izmyeryenii tolsciny ehpitaksial'nykh poluprovodnikovykh plyenok na poluprovodnikovykh podlozhkakh myetodom ehllipsomyetrii v dalyekoi infrakrasnoi oblasti spyektra / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K., Sukhorukov O.G. // Mikroehlyektronika. - 1973. - T.2, N 5. - S.454-460. - Bibliogr.: 15 nazv.
- Kuryndina N.K. Kondyensatornaya fotoehds v sistyemye Si-SiO2 / Kuryndina N.K., Svitashyev K.K. // Fizika i tyekhnika poluprovodnikov. - 1973. - T.7, N 7. - S.1452.
- Svitashyev K. Luch svyeta isslyeduyet povyerkhnost' matyeriala / Svitashyev K. // Za nauku v Sibiri. - 1973. - 16 maya. - C.4-5.
- Fiziko-khimichyeskiye i ehlyektrofizichyeskiye svoistva sistyemy gyermanii - tyermichyeskaya dvuokis' gyermaniya. I. Kinyetika rosta i struktura plyenok tyermichyeskoi dvuokisi gyermaniya / Drozdov V.N., Kovalyevskaya T.I., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Mikroehlyektronika. - 1973. - T.2, N 1. - S.46-52. - Bibliogr.: 20 nazv.
- Fiziko-khimichyeskiye i ehlyektrofizichyeskiye svoistva sistyemy gyermanii - tyermichyeskaya dvuokis' gyermaniya. II. EHlyektrofizichyeskiye paramyetry sistyemy Ge-GeO2 / Drozdov V.N., Kovalyevskaya T.I., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Mikroehlyektronika. - 1973. - T.2, N 2. - S.154-158. - Bibliogr.: 17 nazv.
- EHllipsomyetriya na osnovye skhodyascyegosya puchka svyeta / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1973. - T.34, N 5. - S.941-946. - Bibliogr.: 2 nazv.
- * On the problem of measurement of thickness of epitaxial semiconductor films on semiconductor substrates by the ellipsometric method in the far infrared region / Svitashev K.K., Semenenko A.I., Semenenko L.V., Sokolov V.K., Sukhorukov O.G. // Vacuum. - 1975. - V.25, N 1. - P.40-46. - Bibliogr.: 15 ref.
- Fiziko-khimichyeskiye i ehlyektrofizichyeskiye svoistva sistyemy gyermanii - pirolitichyeskaya dvuokis' kryemniya / Kovalyevskaya T.I., Drozdov V.N., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Mikroehlyektronika. - 1974. - T.3, N 5. - S.404-412. - Bibliogr.: 17 nazv.
- EHllipsomyetriya nyeodnorodnykh povyerkhnostnykh plyenok / Vasil'yeva L.L., Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1974. - T.37, N 3. - S.574-581. - Bibliogr.: 7 nazv.
- Primyenyeniye ehllipsomyetrii dlya izmyeryeniya tolscin diehlyektrichyeskikh plyenok na otdyel'nykh ehlyemyentakh intyegral'nykh mikroskhyem / Antsifyerov A.P., Pan'kin V.G., Svitashyev K.K., SHashkin V.V., SHvarts V.L. // Mikroehlyektronika. - 1975. - T.4, N 3. - S.273-275. - Bibliogr.: 3 nazv.
- Tyempyeraturnaya zavisimost' optichyeskikh kharaktyeristik gyermaniya dlya λ=6328 Å / Baklanov M.R., Svitashyev K.K., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Optika i spyektroskopiya. - 1975. - T.39, N 2. - S.362-366. - Bibliogr.: 10 nazv.
- EHllipsomyetrichyeskiye myetody kontrolya v mikroehlyektronikye / Rzhanov A.V., Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Mikroehlyektronika. - 1975. - T.4, N 1. - S.3-23. - Bibliogr.: 69 nazv.
- Temperature dependence of the optical characteristics of germanium at 6328 Å / Baklanov M.R., Svitashev K.K., Semenenko L.V., Sokolov V.K. // Optics and Spectroscopy. - 1975. - V.39, N 2. - P.205-207. - Bibliogr.: 10 ref.
- Kinyetika obrazovaniya sloyev SiO2 pri okislyenii silana kislorodom / Vasil'yeva L.L., Drozdov V.N., Ryepinskii S.M., Svitashyev K.K. // Mikroehlyektronika. - 1976. - T.5, N 5. - S.448-453. - Bibliogr.: 9 nazv.
- Svitashyev K.K. Obscyeye vyrazhyeniye dlya intyensivnosti rabochyego svyetovogo puchka na vykhodye idyeal'nogo ehllipsomyetra / Svitashyev K.K., Filatova YE.S. // Optika i spyektroskopiya. - 1976. - T.40, N 6. - S.1064-1068. - Bibliogr.: 6 nazv.
- Sistyema avtomatizatsii ehllipsomyetrichyeskikh izmyeryenii / Blyumkina YU.A., Algazin YU.B., Arkhipyenko A.V., Svitashyev K.K., Styepanov S.A. // Optika i spyektroskopiya. - 1976. - T.40, N 3. - S.596-599. - Bibliogr.: 13 nazv.
- Ellipsometric study of the interaction of a germanium monocrystal with bromine [pdf 203,2 Kb] / Baklanov M.R., Algazin Y.B., Grebnev N.I., Repinskii S.M., Svitashev K.K. // Reaction Kinetics and Catalysis Letters. - 1976. - V.4, N 3. - P.413-418. - Bibliogr.: 10 ref.
- Svitashev K.K. General expression for the intensity of the working light beam at the exit of an ideal ellipsometer / Svitashev K.K., Filatova E.S. // Optics and Spectroscopy. - 1976. - V.40, N 6. - P.612-614. - Bibliogr.: 6 ref.
- System for automating ellipsometric measurements / Blyumkina Yu.A., Algazin Yu.B., Arkhipenko A.V., Svitashev K.K., Stepanov S.A. // Optics and Spectroscopy. - 1976. - V.40, N 3. - P.339-340. - Bibliogr.: 13 ref.
- Izmyenyeniye optichyeskikh svoistv plyenok nitrida, oksinitrida i okisla kryemniya pri obluchyenii ionami / Gyerasimyenko N.N., Kovalyevskaya T.I., Pan'kin V.G., Svitashyev K.K., TSyeitlin G.M. // ZHurnal prikladnoi spyektroskopii. - 1977. - T.26, N 1. - S.164-166. - - Bibliogr.: 7 nazv.
- Isslyedovaniye i analiz rabochikh kharaktyeristik avtomatizirovannoi ehllipsomyetrichyeskoi ustanovki / Algazin YU.B., Arkhipyenko A.V., Baklanov M.R., Blyumkina YU.A., Svitashyev K.K., Syemyenyenko L.V., Styepanov S.A. // Optika i spyektroskopiya. - 1977. - T.43, N 1. - S.168-175. - Bibliogr.: 20 nazv.
- Isslyedovaniye volnovodnykh struktur, poluchyennykh obluchyeniyem plavlyenogo kvartsa ionami vodoroda / Gyerasimyenko N.N., Pan'kin V.G., Svitashyev K.K., Sokolov S.A., TSyeitlin G.M. // Kvantovaya ehlyektronika. - 1977. - T.4, N 6. - S.1372-1375. - - Bibliogr.: 11 nazv.
- Isslyedovaniye ehpitaksial'nykh sloyev kryemniya na lazyernom IK-ehllipsomyetrye / Svitashyev K.K., Syemyenyenko L.V., SHarshunov A.G., Fyeoktistov A.I. // Mikroehlyektronika. - 1977. - T.6, N 3 - S.258-262. - Bibliogr.: 10 nazv.
- K voprosu opryedyelyeniya optichyeskikh postoyannykh matyerialov myetodom ehllipsomyetrii v dalyekoi IK-oblasti spyektra / Mardyezhov A.S., Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K. // Mikroehlyektronika. - 1977. - T.6, N 5. - S.427-436. - Bibliogr.: 16 nazv.
- K tyeorii modulyatsionnoi ehllipsomyetrii / Arkhipyenko A.V., Blyumkina YU.A., Rzhanov A.V., Svitashyev K.K. // Doklady Akadyemii nauk SSSR. - 1977. - T.235, vyp.2. - C.323-326.
- O tochnosti i chuvstvityel'nosti myetoda ehllipsomyetrii. II. CHuvstvityel'nost' myetoda / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., Sokolov V.K., Filatova YE.S. // Optika i spyektroskopiya. - 1977. - T.42, N 6. - S.1142-1147. - Bibliogr.: 11 nazv.
- Povyedyeniye optichyeskikh postoyannykh i ehlyektrichyeskiye svoistva tonkikh plyenok VaO2 vblizi fazovogo pyeryekhoda / Byeryesnyeva L.A., Vasil'yeva L.L., Dyevyatova S.F., Pan'kin V.G., Svitashyev K.K., SHvarts N.L. // ZHurnal tyekhnichyeskoi fiziki. Pis'ma v ryedaktsiyu. - 1977. - T.3, N 9. - S.420-424. - Bibliogr.: 10 nazv.
- EHlyektronnyye protsyessy na granitsye razdyela poluprovodnik - diehlyektrik i v strukturakh myetall - diehlyektrik - poluprovodnik / Rzhanov A.V., Nakhmanson R.S., Nyeizvyestnyi I.G., Ovsyuk V.N., Pokrovskaya S.V., Ryepinskii S.M., Svitashyev K.K., Sinitsa S.P., Sinyukov M.P., Frantsuzov A.A., CHaplik A. / Fundamyental'nyye isslyedovaniya. Fiziko-matyematichyeskiye i tyekhnichyeskiye nauki. - Novosibirsk: Nauka, 1977. - S.144-152. - Bibliogr.: 15 nazv.
- EHllipsomyetrichyeskiye izmyeryeniya na shyerokhovatykh povyerkhnostyakh gyermaniya i kryemniya / Svitashyev K.K., Syemyenyenko A.I., Syemyenyenko L.V., SHvarts N.L. // Optika i spyektroskopiya. - 1977. - T.43, N 1. - S.161-167. - Bibliogr.: 9 nazv.
- Accuracy and sensitivity of the ellipsometry method. 2: Sensitivity of the method / Svitashev K.K., Semenenko A.I., Semenenko L.V., Sokolov V.K., Filatova E.S. // Optics and Spectroscopy. - 1977. - V.42, N 6. - P.657-660. - Bibliogr.: 11 ref.
- Changes in the optical properties of films of silicon nitride, silicon oxinitride, and silicon oxide upon ion irradiation [pdf 201,7 Kb] / Gerasimenko N.N., Kovalevskaya T.I., Pan'kin V.G., Svitashev K.K., Tseitlin G.M. // Journal of Applied Spectroscopy. - 1977. - V.26, N 1. - P.129-131. - Bibliogr.: 7 ref.
- Ellipsometric measurements on rough germanium and silicon surfaces / Svitashev K.K., Semenenko A.I., Semenenko L.V., Shvarts N.L. // Optics and Spectroscopy. - 1977. - V.43, N 1. - P.88-91. - Bibliogr.: 9 ref.
- Investigation of waveguide structures formed by irradiation of fused quartz with hydrogen ions / Gerasimenko N.N., Pan'kin V.G., Svitashev K.K., Sokolov S.A., Tseitlin G.M. // Quantum Electronics. - 1977. - V.7, N 6. - P.778-780.
- Performance characteristics of an automated ellipsometric device: study and analysis / Algazin Yu.B., Arkhipenko A.V., Baklanov M.R., Blyumkina Yu.A., Svitashev K.K., Semenenko L.V., Stepanov S.A. // Optics and Spectroscopy. - 1977. - V.43, N 1. - P.92-96. - Bibliogr.: 20 ref.
- Theory of modulation ellipsometry / Arkhipenko A.V., Blyumkina Yu.A., Rzhanov A.V., Svitashev K.K. // Soviet Physics Doklady. - 1977. - V.22. - P.402.
- Ryed.: EHllipsomyetriya: bibliografichyeskii ukazatyel' otyechyestvyennoi i inostrannoi lityeratury za 1950-1976 gg. / Akad. nauk SSSR, Sib. otd-niye, In-t fiziki poluprovodnikov; sost. Voloshkyevich YE.D., Lyebyedyeva O.F.; nauchn. ryed. Svitashyev K.K. - Novosibirsk: Nauka, 1977. - 132 s.
|
